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X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

描述:品牌:菲希爾樣品電大高度:140mmX/Y軸平臺移動速度:60mm/s

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    產(chǎn)品型號:
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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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    更新時間:2023-10-18
  • 04/

    訪問量:880
詳細內(nèi)容/ Product Details
  X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側(cè)厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設(shè)備。

1.分析超薄鍍層,如:厚度≤0.1umAuPa鍍層;

2.印刷線路板上RoHsWEEE要求的痕量分析;

3.黃金成分分析

4.測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層;

5.分析復雜的多鍍層系統(tǒng);

6.全自動測量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。

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